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Rise-3002型顆粒圖像儀介紹

點擊次數:2684  更新時間:2008-11-01

 

Rise-3002型顆粒圖像分析儀將傳統的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和粒度測量的顆粒分析系統,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統通過的數字攝像機將顯微鏡的顆粒圖像拍攝下來傳輸給電腦,通過的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行處理分析,具有直觀、形象、準確和測試范圍寬等特點。可以觀察顆粒形貌,也可得到粒度分布等分析結果。
 
技術參數:
1、 測量范圍:1~3000微米
2、 zui大光學放大倍數:1600倍
3、 zui大分辨率:0.1微米/像素
4、 準確性誤差:< ±3%(國家標準物質)
5、 重復性偏差:< ±3%(國家標準物質)
6、 數據輸出:周長分布、面積分布、長徑分布、短徑分布、周長相當徑分布、面積相當徑分布、Feret徑分布、長短徑比、中間徑(D50)、有效粒徑(D10)、限定粒徑(D60)、D30、D97、個數長度平均徑、個數面積平均徑、個數體積平均徑、長度面積平均徑、長度體積平均徑、面積體積平均徑、不均勻系數、曲率系數。